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  • 雙頭探針 038-BB-5.7L

    雙頭探針 038-BB-5.7L

    產(chǎn)品型號:038-BB-5.7L
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.38mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為尖頭
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    產(chǎn)品介紹:針軸兩端采用高碳鋼的材質,防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲;針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

  • 雙頭探針 031-UU-5.7L

    雙頭探針 031-UU-5.7L

    產(chǎn)品型號:031-UU-5.7L
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為爪頭
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    產(chǎn)品介紹:針軸兩端采用高碳鋼的材質,防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲;針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

  • 雙頭探針031-JJ-5.7L

    雙頭探針031-JJ-5.7L

    產(chǎn)品型號:031-JJ-5.7L
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型均為圓頭
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    產(chǎn)品介紹:針軸兩端采用高碳鋼的材質,防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲;針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

  • 雙頭探針031-BU-5.7L

    雙頭探針031-BU-5.7L

    產(chǎn)品型號:031-BU-5.7L
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    產(chǎn)品介紹:針軸兩端采用高碳鋼的材質,防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲;針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

  • 雙頭探針031-BF-5.7L

    雙頭探針031-BF-5.7L

    產(chǎn)品型號:031-BF-5.7L
    所屬分類:雙頭探針
    產(chǎn)品頭型:探針外徑為0.31mm,總長度為5.7mm、針的兩端的頭型為 尖頭、爪頭
    產(chǎn)品優(yōu)勢:產(chǎn)品采樣穩(wěn)定、產(chǎn)品過載穩(wěn)定、產(chǎn)品測試誤判率低
    主要應用于:IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
    主要應用行業(yè):手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試,主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業(yè)。
    產(chǎn)品介紹:針軸兩端采用高碳鋼的材質,防止使用的過程中針頭容易斷頭或彎曲;針的測試間距為0.40mm,使用的壽命可達200K左右

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